login english language greek language

 

AutoSIMS

AutoSIMS

 

Αυτόματο Σύστημα Ανάλυσης Επιφανειών

 

Η Hiden Analytical έχει αναπτύξει ένα πλήρως αυτόνομο σύστημα αυτόματης ανάλυσης επιφάνειας στο AutoSIMS, ένα καινοτόμο δευτερεύον φασματόμετρο μάζας ιόντων (SIMS) που μπορεί να εκτελεί αναλύσεις ρουτίνας και επαναλαμβανόμενες αναλύσεις χωρίς παρακολούθηση. Με ένα πλήρως αυτοματοποιημένο στάδιο X-Y και διευρυμένη βάση, το AutoSIMS by Hiden μπορεί να εκτελεί εκατοντάδες διεργασίες την ημέρα κατά τη διάρκεια αδιάλειπτης λειτουργίας 24/7.

 

🛑 Επισκόπηση

Η Hiden Analytical ειδικεύεται στα όργανα SIMS για τη διαμόρφωση προφίλ βάθους νανοκλίμακας και την ποσοτική ανάλυση επιφάνειας μυριάδων διαφορετικών τύπων δειγμάτων, από ολοκληρωμένους σταθμούς εργασίας έως συμπαγείς λύσεις SIMS. Το AutoSIMS περιλαμβάνει το ίδιο πιστόλι πρωτογενών ιόντων με πηγή οξυγόνου μακράς διάρκειας και τον αναλυτή MAXIM που βρίσκονται σε όλη τη σειρά προϊόντων Hiden SIMS, με την προσθήκη μιας δομοστοιχειωτής υποδοχής δείγματος κασέτας και μιας βαθμίδας δείγματος X-Y που βασίζεται σε λογισμικό. Αυτό παρέχει τη βάση για ανίχνευση υψηλής αξιοπιστίας σχετικών φασμάτων επιφάνειας και τρισδιάστατων (3D) προφίλ βάθους χωρίς ανθρώπινη παρέμβαση.

Η μεγάλη διάρκεια ζωής του πιστολιού ιόντων διασφαλίζει τη δημιουργία μιας σταθερής δέσμης υψηλής σταθερότητας σε εκτεταμένες περιόδους λειτουργίας, επιτρέποντας στη θήκη κασέτας και στη βαθμίδα δείγματος να παρέχουν συνεχείς δόσεις δείγματος για ανάλυση παρτίδας υψηλής απόδοσης. Ακόμη και αρχάριοι χειριστές μπορούν να προγραμματίσουν το σύστημα αυτόματης ανάλυσης επιφάνειας τροποποιώντας τη μήτρα των πειραματικών παραμέτρων μέσω ενός απλού υπολογιστικού φύλλου.

AutoSIMS από την Hiden Analytical

Το σύστημα αυτόματης ανάλυσης επιφάνειας AutoSIMS της Hiden μπορεί να εκτελέσει τόσο στατική όσο και δυναμική ανάλυση SIMS με ανάλυση βάθους νανομέτρων, με πλήρη ανεξαρτησία. Μπορεί επίσης να εκτελεστεί σε χειροκίνητη λειτουργία για έμπειρους χρήστες που θέλουν να εκμεταλλευτούν το σύνολο των τεχνικών δυνατοτήτων που έχουν στη διάθεσή τους.

 

🛑 Χαρακτηριστικά

 

☑️ Πλήρως αυτοματοποιημένη, χωρίς επίβλεψη, ανάλυση SIMS

☑️ Μεγάλο στάδιο δείγματος X-Y

☑️ Πιστόλι ιόντων οξυγόνου για ευαίσθητη ανάλυση

☑️ Προσαρμόσιμη βάση δειγμάτων σε στυλ κασέτας

☑️ Οι παράμετροι μπορούν να καθοριστούν μέσω υπολογιστικού φύλλου

☑️ Τρισδιάστατος χαρακτηρισμός

☑️ Ανάλυση βάθους νανομέτρων

☑️ Αρθρωτό σέρβις για υψηλό χρόνο λειτουργίας

 

🛑 Εφαρμογές

 

☑️ Λεπτές μεμβράνες

☑️ Τροποποίηση Επιφάνειας

☑️ Επιστρώσεις

☑️ Παρακολούθηση προϊόντων

☑️ Επαναληπτική Ανάλυση

☑️ Μεγάλες Επιφάνειες

☑️ Πολλαπλές περιοχές

☑️ CVD / MOCVD / ALD 

 Επιστροφή
Κεντρικά: Σταματίου Ψάλτου 30, 54644 Θεσσαλονίκη, Τηλ.: (+30) 2310-855844, Φαξ: (+30) 2310-886206
Υποκατάστημα: Μομφεράτου 131, 11475 Αθήνα, Τηλ.: (+30) 210-6452848, Φαξ: (+30) 210-6452413, www.megalab.gr, contact@megalab.gr

Created Alpha