Νανοτεχνολογία (Nanotechnology)

Νανοτεχνολογία

Η Hiden Analytical προμηθεύει κορυφαία στον κλάδο τετραπολικά φασματόμετρα μάζας που καθιστούν δυνατές εφαρμογές αιχμής στη νανοτεχνολογία, από ανάλυση επιφάνειας ατομικής κλίμακας έως διαγνωστικά κενού εξαιρετικά ακριβείας. Εδώ θα βρείτε μια ολοκληρωμένη λίστα των προϊόντων μας φασματομετρίας μάζας για τον προσδιορισμό της σύστασης της επιφάνειας, την ανάλυση των ρύπων και τη διαμόρφωση του προφίλ βάθους.

☑️ Σταθμός εργασίας SIMS/SNMS

Ο σταθμός εργασίας SIMS συνδυάζει δυναμική και στατική ανάλυση SIMS με φασματόμετρο μάζας διπλής λειτουργίας για ανίχνευση θετικών (+ve) και αρνητικών (-ve) ιόντων και μια πρόσθετη λειτουργία ανίχνευσης δευτερεύουσας ουδέτερης φασματομετρίας μάζας (SNMS), για ανώτερη ευελιξία στην ανάλυση επιφανειών εφαρμογές.

☑️ HPR-60 ​​MBMS

Το HPR-60 ​​MBMS (φασματόμετρο μοριακής μάζας δέσμης) είναι βελτιστοποιημένο για την ανάλυση τόσο θετικών (+ve) όσο και αρνητικών (-ve) ιόντων, καθώς και ουδέτερων και ριζών, καθιστώντας το μια ισχυρή λύση για ανάλυση πλάσματος και καύσης.

☑️ XBS

Ένα σύστημα παρακολούθησης πολλαπλών πηγών σε εφαρμογές εναπόθεσης MBE. Για ανάλυση μοριακής δέσμης και έλεγχο ρυθμού εναπόθεσης.

☑️ Σταθμός εργασίας TPD

Ένα σύστημα για μελέτες προγραμματισμένης εκρόφησης θερμοκρασίας UHV (TPD/TDS).

☑️ FIB-SIMS

Φασματομετρία μάζας δευτερογενούς ιόντος (SIMS) υψηλής απόδοσης με μπουλόνι για υπάρχοντα συστήματα δέσμης ιόντων (FIB).