login english language greek language

 

Compact SIMS

Compact SIMS

 

Compact SIMS – μια σημαντική ανακάλυψη σχεδιασμού για ανάλυση επιφάνειας

 

Το εργαλείο Hiden Compact SIMS έχει σχεδιαστεί για γρήγορο και εύκολο χαρακτηρισμό δομών στιβάδων, επιφανειακής μόλυνσης και ακαθαρσιών με ευαίσθητη ανίχνευση θετικών ιόντων υποβοηθούμενη από τη δέσμη πρωτογενών ιόντων οξυγόνου και παρέχει ισοτοπική ευαισθησία σε ολόκληρο τον περιοδικό πίνακα. Το σετ γεωμετρίας πιστολιού ιόντων είναι ιδανικό για ανάλυση βάθους νανομέτρων και ανάλυση κοντά στην επιφάνεια.

 

🛑 Επισκόπηση

Το εργαλείο Hiden Compact SIMS έχει σχεδιαστεί για γρήγορο και εύκολο χαρακτηρισμό δομών στιβάδων, επιφανειακής μόλυνσης και ακαθαρσιών με ευαίσθητη ανίχνευση θετικών ιόντων υποβοηθούμενη από τη δέσμη πρωτογενών ιόντων οξυγόνου και παρέχει ισοτοπική ευαισθησία σε ολόκληρο τον περιοδικό πίνακα. Η γεωμετρία του πιστολιού ιόντων είναι βελτιστοποιημένη ώστε να είναι ιδανική για ανάλυση βάθους νανομέτρων και ανάλυση κοντά στην επιφάνεια.

Ένα περιστροφικό καρουζέλ επιτρέπει την ταυτόχρονη φόρτωση 10 δειγμάτων για μέτρηση στον θάλαμο κενού που αντλείται ξηρά. Το όργανο έχει μικρό αποτύπωμα και είναι εξαιρετικά εύκολο στη χρήση, διαθέτει το ίδιο λογισμικό ελέγχου και σύστημα πιστολιού ιόντων με την πλήρως εξοπλισμένη οικογένεια σταθμών εργασίας Hiden SIMS, παρέχοντας προφίλ βάθους, τρισδιάστατες και 2D εικόνες και φασματικά δεδομένα μάζας. Ο ανιχνευτής MAXIM-600P βασίζεται γύρω από το εξαιρετικά αξιόπιστο φίλτρο μάζας τριπλού τετραπολικού Hiden 6mm με ανίχνευση ιόντων παλμών. Διατίθεται μια επιλογή πιστολιού ηλεκτρονίων για ανάλυση μονωτικών δειγμάτων.

Εκτός από το SIMS, το Compact SIMS διαθέτει μια εγκατάσταση SNMS που είναι χρήσιμη για τον ποσοτικό προσδιορισμό στοιχείων υψηλής συγκέντρωσης, όπως τα κράματα.

 

🛑 Χαρακτηριστικά

 

☑️ Μικρό αποτύπωμα

☑️ Εύκολη φιλική προς το χρήστη διάταξη

☑️ Απαιτεί μόνο μονοφασική ηλεκτρική ισχύ (κάτω από 10Α)

☑️ Σχέδιο τρόλεϊ με τροχούς

☑️ Θετικά SIMS και SNMS

☑️ Προφίλ βάθους

☑️ Τρισδιάστατος χαρακτηρισμός και απεικόνιση

☑️ Φάσματα μάζας

☑️ Ισοτοπική ανάλυση

☑️ Ανάλυση σε νανομετρική κλίμακα

 

🛑 Εφαρμογές

 

☑️ Ηλιακά κύτταρα

☑️ Επιστρώσεις γυαλιού

☑️ Μεταλλικές λεπτές μεμβράνες 

 Επιστροφή
Κεντρικά: Σταματίου Ψάλτου 30, 54644 Θεσσαλονίκη, Τηλ.: (+30) 2310-855844, Φαξ: (+30) 2310-886206
Υποκατάστημα: Μομφεράτου 131, 11475 Αθήνα, Τηλ.: (+30) 210-6452848, Φαξ: (+30) 210-6452413, www.megalab.gr, contact@megalab.gr

Created Alpha