ToF-qSIMS Workstation

Σταθμός εργασίας ToF-qSIMS

Καινοτόμο σύστημα Time of Flight Quadrupole SIMS

Το σύστημα Hiden TOF-qSIMS έχει σχεδιαστεί για εφαρμογές ανάλυσης επιφάνειας και προφίλ βάθους μιας ευρείας σειράς υλικών, συμπεριλαμβανομένων πολυμερών, φαρμακευτικών προϊόντων, υπεραγωγών, ημιαγωγών, κραμάτων, οπτικών και λειτουργικών επικαλύψεων και διηλεκτρικών, με μέτρηση ιχνών συστατικών σε επίπεδα κάτω από ppm.

🛑 Επισκόπηση

Ο νέος αναλυτής χρόνου πτήσης Hiden TOF ενισχύει το SIMS για να προσφέρει στον χρήστη το καλύτερο από το δυναμικό εύρος από τις τετραπολικές SIMS υψηλής απόδοσης μαζί με τα πλεονεκτήματα της παράλληλης συλλογής δεδομένων και της ανάλυσης μοριακών θραυσμάτων από τη στιγμή της πτήσης SIMS, TOF-SIMS.

Η δυνατότητα TOF-qSIMS επιτρέπει την υπερφασματική απεικόνιση για λεπτομερή ανάλυση υλικών με χωρική ανάλυση.

Το σύστημα TOF-qSIMS προσφέρει τις ολοκληρωμένες δυνατότητες στατικής TOF-SIMS και προφίλ βάθους υψηλού δυναμικού εύρους από το τετραπολικό SIMS.

Πλήρως ενσωματωμένο και βελτιστοποιημένο για ανάλυση SIMS υψηλής απόδοσης, το σύστημα σταθμού εργασίας TOF-qSIMS περιλαμβάνει θάλαμο UHV πολλαπλών θυρών, αναλυτή TOF-SIMS, αναλυτή τετραπολικού Hiden's MAXIM SIMS, πιστόλι πρωτεύοντος ιόντος αερίου IG20, πιστόλι μεταλλικού ιόντος Cs και υποδοχή δείγματος σχεδιασμένο για να φιλοξενεί το ευρύτερο φάσμα δειγμάτων. Η λειτουργία SNMS υψηλής ευαισθησίας περιλαμβάνεται για ποσοτική ανάλυση μεταλλουργικών λεπτών μεμβρανών, αγώγιμων και μη αγώγιμων οξειδίων και άλλων υλικών και επικαλύψεων κραμάτων. Περιλαμβάνονται στάνταρ εγκαταστάσεις για βελτίωση SIMS, όπως πλημμύρα οξυγόνου, εξουδετέρωση φορτίου ηλεκτρονίων και ψήσιμο υπό κενό.

Η επιλογή λογισμικού SIMS Mapper PC παρέχει χαρτογράφηση με δυνατότητα προβολής 2D και 3D στην περιοχή δείγματος. Περιλαμβάνεται ηλεκτρονική πύλη για βελτιστοποιημένο προφίλ βάθους υψηλού δυναμικού εύρους. Η δυνατότητα ανάλυσης TOF SIMS περιλαμβάνει πλήρη φασματική ανάλυση, pixel προς pixel σε όλο το δείγμα εικόνας.

 Το σύστημα δεδομένων PC SIMS, MASsoft Professional, περιλαμβάνει μια απλή διεπαφή με δυνατότητα διαμόρφωσης από το χρήστη για έλεγχο και απόκτηση δεδομένων, συμπεριλαμβανομένης της ρύθμισης και του ελέγχου της πρωτεύουσας ράστερ δέσμης ιόντων για ανάλυση επιφάνειας και εφαρμογές προφίλ βάθους.

🛑 Χαρακτηριστικά

☑️ Ευαίσθητη στατική ανάλυση SIMS για κορυφαία εξειδίκευση μονοστοιβάδας

☑️ Το υψηλό εύρος μάζας ανιχνεύει μεγάλα μόρια από πολυμερή, φαρμακευτικά προϊόντα, ιατροδικαστικά

☑️ Η υψηλή ανάλυση μάζας διαχωρίζει τις μοριακές παρεμβολές

☑️ Η παράλληλη ανίχνευση επιτρέπει την εκ των υστέρων ανάλυση αγνώστων

☑️ Υπερφασματική απεικόνιση και προφίλ βάθους για γρήγορο προσδιορισμό των χωρικών κατανομών

☑️ Προφίλ βάθους υψηλού δυναμικού εύρους και ευαισθησίας αφθονίας

☑️ Πλήρως ευέλικτο και μελλοντικό όργανο SIMS

🛑 Εφαρμογές

☑️ Ανάλυση Επιφανειών

☑️ Μηχανική λεπτών φιλμ & επιφανειών

☑️ Επιφανειακή επιστήμη

☑️ Νανοτεχνολογία